耐受電壓試驗(yàn)

對(duì)試品施加電壓時(shí)應(yīng)從足夠低的數(shù)值開(kāi)始,以防止變過(guò)程引起的過(guò)電壓的影響;然后應(yīng)緩慢地升高電壓,以便能在儀表上準(zhǔn)確讀數(shù),但也不應(yīng)太慢,以免試品在接近試驗(yàn)電壓U時(shí)耐壓的時(shí)間過(guò)長(zhǎng)。如果當(dāng)電壓高于75%U時(shí)以2%U/s的速率上升,通常能滿足上述要求。將試驗(yàn)電壓值保持規(guī)定的時(shí)間后,通過(guò)適當(dāng)?shù)碾娮枋雇冯娙?包括試品電容)放電來(lái)降低電壓。

耐受電壓的持續(xù)時(shí)間應(yīng)由有關(guān)技術(shù)委員會(huì)根據(jù)試品的電阻和電容決定的達(dá)到穩(wěn)態(tài)電壓分布的時(shí)間來(lái)確定。若有關(guān)技術(shù)委員會(huì)沒(méi)有規(guī)定，則耐受電壓試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間為60s。

電壓的極性或每種極性電壓的施加次序,以及任何不同于上述規(guī)定的要求應(yīng)由有關(guān)技術(shù)委員會(huì)規(guī)定。

如果試品上沒(méi)有破壞性放電發(fā)生，則滿足耐受試驗(yàn)要求。

破壞性放電電壓試驗(yàn)

在試品上施加電壓并連續(xù)升壓(同耐受電壓試驗(yàn))直至試品上發(fā)生破壞性放電。應(yīng)記錄破壞性放電發(fā)生瞬間的最后電壓值。該試驗(yàn)應(yīng)重復(fù)"次,以得到一組”個(gè)電壓測(cè)量值。有關(guān)技術(shù)委員會(huì)規(guī)定升壓速度、施加電壓次數(shù)和評(píng)估試驗(yàn)結(jié)果的方法。

確保破壞性放電電壓試驗(yàn)

在試品上施加電壓并連續(xù)升壓(同耐受電壓試驗(yàn))直至試品上發(fā)生破壞性放電。應(yīng)記錄破壞性放電發(fā)生瞬間前的最后電樂(lè)值。該試驗(yàn)需重復(fù)”次,以得到一組"個(gè)電壓測(cè)量值。如果在該組電壓中沒(méi)有一個(gè)電壓高于確保破壞性放電電壓,則認(rèn)為滿足試驗(yàn)要求，有關(guān)技術(shù)委員會(huì)應(yīng)規(guī)定施加電壓的次數(shù)和升生速度。

試驗(yàn)電流的測(cè)量

在測(cè)量流過(guò)試品的電流時(shí)，可以區(qū)分出幾個(gè)獨(dú)立的分量。對(duì)同一個(gè)試品和同一試驗(yàn)電壓,各分量的大小可能差幾個(gè)數(shù)量級(jí)。這些分量是：

a)電容電流：由于開(kāi)始加上試驗(yàn)電壓或由于試驗(yàn)電壓上紋波或其他波動(dòng)所引起。

b)介質(zhì)吸收電流：由于絕緣中發(fā)生緩慢的電荷位移而引起。電流可持續(xù)幾秒至幾小時(shí)。該過(guò)程局部可逆。當(dāng)試品放電或短路時(shí),可觀察到反極性電流。

c)持續(xù)泄漏電流：當(dāng)a)和b)分量衰減到零后,在恒定電壓下達(dá)到穩(wěn)態(tài)的直流電流。

d)局部放電電流。

測(cè)量a)、b)、c)3個(gè)分量時(shí)需用量程較寬的儀器。應(yīng)注意保證儀器對(duì)某一個(gè)電流分量的測(cè)量不受其他分量的影響。對(duì)于非破壞性試驗(yàn),有時(shí)可以從觀測(cè)電流隨時(shí)間的變化規(guī)律中了解絕緣狀態(tài)。每個(gè)電流分量的相對(duì)幅值和重要性取決于試品的類型和狀態(tài)、試驗(yàn)的目的以及試驗(yàn)的持續(xù)時(shí)間當(dāng)特別需要區(qū)分某一特定分量時(shí),相的測(cè)量程序由有關(guān)技術(shù)委員會(huì)規(guī)定。

應(yīng)使用校準(zhǔn)過(guò)的測(cè)量系統(tǒng)進(jìn)行電流測(cè)量。

應(yīng)使用GB/T7354局部放電測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的專用局部放電測(cè)試儀器進(jìn)行局部放電脈沖電流的測(cè)量。

注：由于直流電壓試驗(yàn)中可能出現(xiàn)破壞性放電，其電流遠(yuǎn)大于常規(guī)電流，因此通常應(yīng)在直流電流測(cè)量回路中使用電壓保護(hù)裝置。